X-MaxN 100TLE探头应用了有效面积100mm2的晶体，无窗设计，提供超大固体角的新颖机械设计。以N Ka X射线为例，其有效固体角比传统的30mm2 SDD探头大了12倍。这意味
着用户可以检测到更低浓度的元素，例如纳米级别的杂质和参杂物。另一个好处是可以在电子束破坏敏感样品前采集到更多的数据。
正如牛津仪器纳米分析市场总监Del Redfern先生说“这是我们SDD探头中的旗舰产品，它体现了灵敏度和速度的大飞跃。在高分辨TEM的试验中，我们甚至可以在60秒内采集到原子列面分布图。”
纳米分析部
纳米分析是能够在纳米级别进行材料表征及样品处理的尖端工具。 利用电子显微镜以及离子束系统，我们的设备可广泛应用于学术研究和工业应用，包括半导体、可再生能源、采矿、冶金以及法医学等领域。
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